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| 品牌： | 日本otsukael大塚電子 |
| 產地： | 日本 |
| 關注度： | 486 |
| 型號： | EL-SEneoSE |
誤差率：不限
分辨率：400
重現性：300
儀器原理：其他
分散方式：100
測量時間：不限
測量范圍：300
測量功能多樣
多功能集成：可根據用途增加功能，如分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定等。
粒徑和Zeta電位測量：可測量從稀薄到濃厚溶液（約40%）的粒徑和Zeta電位。
高鹽濃度測量：可在高鹽濃度下測定平板狀樣品的Zeta電位。
寬溫度范圍：可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量，并通過溫度梯度功能對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析。
高精度測量
實測電氣浸透流圖分析：通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的Zeta電位測量結果。
多角度測定：通過從正面、側面和背面三個角度進行測量和分析，提供具有更高分辨率的粒徑分布。
適用范圍廣泛
多種樣品類型：適用于從稀薄到濃厚溶液的測量，可測量濃度范圍從0.00001%（0.1ppm）的稀溶液到40%的濃溶液。
多種應用領域：適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學等領域的基礎研究和應用研究。
選配件豐富
多種樣品池單元：包括Zeta電位平板單元、Zeta電位微小平板單元、Zeta電位微量可拋式Cell unit、Zeta電位濃厚Cell unit、Zeta電位低介電常數Cell unit、粒徑超微量玻璃Cell unit等。
pH滴定儀：可自動測量隨著不同pH值或添加劑濃度的粒徑/Zeta電位變化。
高感度示差折射儀：用于實測解析分子量時必不可少的參數dn/dc。
技術參數
測量原理：
粒徑：動態光散射法（光子相關法）
Zeta電位：電泳光散射法（激光多普勒法）
分子量：靜態光散射法
光學系統：
粒徑：零差光學系統
Zeta電位：外差光學
分子量：零差光學系統
光源：高功率半導體激光器
探測器：高靈敏度APD
樣品池單元：
Zeta電位：標準池、微量一次性池或濃縮池
粒度/分子量：方形池
溫度范圍：0~90℃（帶溫度梯度功能）
電源：220V ± 10%，250VA
尺寸（WDH）：330（W）×565（D）×245（H）
重量：22公斤
應用實例
新型功能材料領域：如燃料電池相關材料（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）和納米生物相關材料（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）。
陶瓷/著色材料工業領域：如陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）、無機溶膠的表面改性、顏料的分散/聚集控制。
半導體領域：如異物附著在硅晶片表面的原理解析。
聚合物/化工領域：如乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制、聚電解質的功能研究。
制藥/食品工業領域：如乳液（食品/香料/醫療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測。
ELSZneoSE憑借其多功能性、高精度測量能力和廣泛的適用范圍，成為科研和工業領域中不可或缺的分析工具。
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深圳秋山工業設備有限公司
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