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| 品牌： | Microtrac-BEL |
| 產地： | 日本 |
| 關注度： | 445 |
| 型號： | Nanotrac Wave Ⅱ |
測量范圍：300
誤差率：不限
分辨率：400
重現性：300
儀器原理：動態光散射
分散方式：100
測量時間：不限
動態光背散射技術：采用先進的動態光背散射技術，結合全量程米氏理論處理，可準確測量粒徑范圍為0.3nm-10μm的納米顆粒。
微電場分析技術：融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。
異相多譜勒頻移技術：獲得的光信號強度較傳統方法高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。
快速傅利葉變換算法：迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。
獨特的光學系統設計
“Y”型光纖探針光路設計：通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。
超短散射光程設計：減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
高精度與高靈敏度
激光放大檢測方法：信噪比是其他DLS方法的106倍，如光子相關光譜（PCS）和納米跟蹤（NT），不受樣品中污染物造成的信號失真影響。
可控參比方法（CRM）：能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。
高精度測量：粒度分析范圍寬，重現性誤差≤1%，濃度范圍廣（100ppb-40%w/v），測量精度高，無需預選，依據實際測量結果，自動生成單峰/多峰分布結果。
操作簡便與高效
無需復雜設備：無需比色皿、毛細管電泳池或外加電池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果。
消除多種干擾：完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，提高靈敏度。
強大的軟件系統
FLEX軟件：提供強大的數據處理能力，包括圖形、數據輸出/輸入、個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出、Internet共享數據、Microsoft Access格式（OLE）等。數據的完整性符合21 CFR PART 11要求。
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