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機械密封中密封端面的平面度怎樣檢測?-上??颂m機械密封百科分享
平面度(平直度)是密封環(huán)很重要的一個質(zhì)量指標,要求在0.9um 以內(nèi)。密封端面平面度的檢測,通常是利用光波的干涉效應來測量??梢杂觅|(zhì)量非常高的激光干涉儀或光學平晶來進行測量。前者屬非接觸量法,后者屬接觸量法。光學平晶價格便宜,因而被廣泛采用。
光波干涉測量法所用的平面平晶是利用派利克斯玻璃、熔凝水晶或折光系數(shù)為1.516的光學玻璃制造,使之成為具有平直工作端面的透明圓柱體。所用的光源常采用單色光源,如鈉光燈。檢測時,將平晶放到被檢的密封端面上,斜上方用鈉光燈照射檢查干涉條紋的數(shù)量。
鈉光的波長0.589mm,每條干涉帶相當于平晶與被測表面間有半個波長的距離。即一條干涉條紋為0.29um,由干涉條紋的數(shù)量即可確定密封端面的平面度。
密封百科知識內(nèi)容選自《實用機械密封技術(shù)問答》

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