基于經典基片彎曲法Stoney公式測量原理,采用先進的矩陣激光點陣掃描方式和探測技術,以及智能化的操作,使得FST2000薄膜應力儀特別適合于晶圓類光電薄膜樣品的曲率半徑和應力測量。
獨特的雙模掃描模式方便適應不同應用場景下需求:Mapping不同區域的薄膜應力分布或快速表征樣品整體平均殘余應力。