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參考報價：電議 型號：
產地：美國 在線咨詢
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臺式X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES）
美國easyXAFS公司**推出臺式X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES），采用獨有的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質量，廣泛應用在催化、電池等研究領域，實現對元素的測定、定量和價態分析等。
XAFS300 | XES100 |
easyXAFS產品參數
X射線源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W) 能量范圍: 5-12keV; 可達19keV 分辨率: 0.5-1.5eV 樣品塔: 7位自動樣品輪 布拉格角: 55-85 deg | 檢測器: SDD 單晶尺寸: 球面單晶(Si/Ge) 直徑10cm，曲率半徑100cm 軟件: LabVIEW， 腳本掃描 擴展: 儀器可外接設備，控制樣品條件 分析儀校準: 預先校準，快速插拔更換 |
easyXAFS 產品優勢
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設計，實驗室內使用
- 可外接儀器設備，控制樣品條件
- 可實現多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護成本低
easyXAFS 應用案例譜圖展示
1、XAFS300
2、XES100
■ XES Mode
■ XAFS Mode
easyXAFS 已發表文章
1. Jahrman， Seidler， et al.， J. Electrochem. Soc. 2019.
2. Jahrman， Holden， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2019.
3. Bès， Ahopelto， et al.， J. Nucl. Mater. 2018.
4. Mundy， Cossairt， et al.，Chem Mater 2018
5. Jahrman， Seidler， and Sieber， Anal. Chem.， 2018
6. Holden， Seidler， et al.， J. Phys. Chem. A， 2018.
7. Stein， Holden， et al.， Chem. Mater.， 2018.
8. Padamati， Angelone， et al.， JACS， 2017
9. Mortensen， Seidler， et al.， Phys Rev B， 2017.
10. Valenza， Jahrman， et al.， Phys Rev A， 2017
11. Mortensen， Seidler， et al.， XAFS16 conference proceedings.
12. Seidler， Mortensen， et al.， XAFS16 conference proceedings.
13. Seidler， Mortensen， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2014.
