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第39屆中國國際陶瓷工業展覽會于今日在廣州廣交會展館A區盛大開幕！作為全球規模最大的陶瓷裝備材料行業盛會，本屆展會以“高端化、智能化、綠色化、融合化”為主題，匯聚800余家中外展商、900多個品牌，覆蓋建筑陶瓷、衛浴陶瓷、日用陶瓷、特種陶瓷等全產業鏈領域，預計吸引80多個國家的10萬專業觀眾共探行業新趨勢。
規模升級
8大主題展廳、超80,000平方米展區，聚焦陶瓷機械設備、原輔料、數字化技術及綠色工藝；
前沿論壇
同期舉辦“建筑陶瓷表面裝飾技術”“陶瓷原輔料新質生產力峰會”等20余場高端會議，推動技術跨界融合；
全球聯動
意大利、德國等國際展團攜創新工藝亮相，加速陶瓷產業全球化資源整合。
真理光學展位亮點：粒度檢測技術的突破性應用（展位號：2.1館B830）
原料精準管控：破解陶瓷“雜質痛點”
陶瓷原料中的鐵雜質和顆粒不均是導致燒成品“黃斑”“裂紋”的元兇。真理光學LT系列激光粒度儀憑借0.015-3600μm全量程覆蓋及10000次/秒超高速采樣技術，實現：
工藝優化
為應對先進陶瓷和電子陶瓷精細化趨勢，陶瓷制程對陶瓷漿料粒度的均勻性和粒度提出更高要求，從傳統的攪拌磨和球磨升級為砂磨工藝，研磨粒度D50尺寸達至100納米，真理光學梯形專利技術解決亞微米測量盲區痛點，為砂磨制程提供數據支撐，提升陶瓷致密性與成品良率。
雜質溯源
精準分析氧化鋯、氧化硅、氧化鋁、瓷土、高嶺土等原料的粒度分布（D10/D50/D90），識別大顆粒異常雜質；
燒結工藝革新：納米填料重構陶瓷性能
針對高性能陶瓷（如氧化鋯、碳化硅），納米填料的分散均一性直接決定燒結密度與機械強度。真理光學 Nanolink SZ902納米粒度儀以三大技術破局：
多角度動態光散射（DLS）
支持12°、90°、173°多角度測量，捕捉納米填料（如Al?O?、SiC）團聚狀態；
Zeta電位聯控
實時監測漿料穩定性（30mV為臨界值，通常要求大于該電位絕對值），避免燒結中納米顆粒聚集導致的晶界缺陷；
高溫適配性
-10°C至120°C溫控系統，模擬實際燒結環境，預判材料熱穩定性。
釉料品質升級：攻克色差與流平性難題
釉料顆粒分布影響施釉均勻性與呈色效果。
真理光學創新方案：
偏振濾波技術
消除釉料液滴的光散射干擾，精準解析1-50μm關鍵粒徑段；
跨介質測試
濕法模式（水/乙醇分散）兼容釉料漿料，Span值（(D90-D10)/D50）＜0.8時，燒成色差率降低40%。
技術顧問現場服務：
譚先生 13104709992（展位現場負責人）
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參會福利：展會現場，我們除了安排專業技術顧問給現場客戶介紹產品、技術和解答應用疑問，還為前來咨詢的觀眾客戶準備了精美小禮品，歡迎大家前來參觀和技術交流。
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