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90°動態散射光探測技術
適用于低濃度樣品
產品介紹
BeNano90納米粒度分析儀是基于動態光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在 90°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相關曲線，結合數學方法得到顆粒的擴散系數，進一步利用斯托克斯-愛因斯坦方程得到樣品的粒度分布結果。
基本性能指標
粒徑檢測
? 粒徑范圍：0.3 nm–15 μm
? 最小樣品量：3 μL
? 檢測角度：90°
? 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
分子量測試
分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da
微流變測試
測試能力：均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量
趨勢測試
模式：時間和溫度
系統參數
? 溫控范圍：-15°C - 120°C
? 冷凝控制：干燥空氣或者氮氣
? 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
? 相關器：快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多4000通道，1011動態線性范圍
? 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）
? 光強控制：0.0001% - 100%，手動或者自動
檢測參數
? 流體力學尺寸 Dh
? 分布系數 PD.I
? 擴散系數 D
? 顆粒間相互作用力因子kd
? 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
? 計算分子量
? 溶液粘度和折射率
? 流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
檢測技術
? 動態光散射
? 靜態光散射
選配件
? 動靜態流動模式
BeNano動靜態流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
? 0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。
丹東百特儀器有限公司是中國著名的粒度儀器制造企業，主要產品是激光粒度分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、顯微圖像粒度粒形分析儀等。產品銷售到全國34個省市區，還出口到美國、德國、韓國、日本、巴西、俄羅斯等92個國家和地區，性能指標達到國際一流水平。百特的目標是“造精品儀器，創國際品牌，做百年企業”，在此基礎上為用戶創造最大價值。
