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BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀

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背向 +90°散射粒度

 +Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型


產品介紹

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。


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基本性能指標

粒徑檢測(動態光散射法)

? 粒徑范圍:0.3 nm–15 μm

? 最小樣品量:3 μL

? 檢測角度:173°+ 90°+ 12°

? 分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS


沉降法粒度測試

? 檢測方法:沉降法

? 粒徑范圍:1 μm – 50 μm

? 檢測角度:0°

? 樣品量:1 - 3 mL


Zeta電位測試

? 檢測角度:12°

? Zeta范圍:無實際限制

? 電泳遷移率范圍:> ±20 μ.cm/V.s

? 電導率范圍:0 - 260 mS/cm

? Zeta測試粒徑范圍:2 nm –>120 μm


分子量測試

分子量范圍:342 Da – 2 x 107 Da 


微流變測試

測試能力:均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量


趨勢測試

模式:時間和溫度


濃度檢測

? 檢測方法:LEDLS

? 測試能力:體積分數和數量濃度


折光率測試

? 檢測方法:楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)

? 檢測角度:0°

? RI范圍:1.2-1.6

? 精度:優于0.1%

? 最小樣品量:380 μL


系統參數

? 溫控范圍:-15°C - 120°C

? 冷凝控制:干燥空氣或者氮氣

? 標準激光光源:50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

? 相關器:快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多4000通道,1011動態線性范圍

? 檢測器:APD (高性能雪崩光電二極管)+ PD + CMOS

? 光強控制:0.0001% - 100%,手動或者自動


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檢測參數

動態光散射

? 流體力學尺寸 Dh

? 分布系數 PD.I? 擴散系數 D

? 顆粒間相互作用力因子kd

? 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

? 計算分子量? 溶液粘度和折射率

? 流變學信息G*,G‘,G“,η*,J


電泳光散射

? Zeta電位及其分布

? 帶電顆粒的電泳遷移率


透射

? 透射濁度

? 顆粒物濃度

? 液體折射率

? 沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

? Zeta電位和粒徑的pH滴定

? 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態光散射

? 絕對分子量Mn、Mw、Mz

? 分子量分布

? 第二維利系數A2


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選配件


? 動靜態流動模式

BeNano動靜態流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。


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? BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環境具有強烈的依賴性,尤其是環境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險。


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? BeScan穩定性分析儀

BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。


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丹東百特  2025-01-10  |  閱讀:2150
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